{"id":30268,"date":"2018-04-23T12:51:00","date_gmt":"2018-04-23T16:51:00","guid":{"rendered":"http:\/\/www.ing.una.py\/?p=30268"},"modified":"2024-09-13T13:53:17","modified_gmt":"2024-09-13T17:53:17","slug":"se-presento-en-la-fiuna-tesis-de-maestria-en-ingenieria-electronica-del-ing-carlos-romero","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.ing.una.py\/FIUNA3\/?p=30268","title":{"rendered":"Se present\u00f3 en la FIUNA Tesis de Maestr\u00eda en Ingenier\u00eda Electr\u00f3nica del Ing. Carlos Romero"},"content":{"rendered":"<p><![CDATA[El pasado jueves 19 de abril del corriente,\u00a0el<strong>\u00a0\u00a0Ing. Carlos Romero Aquino<\/strong>\u00a0present\u00f3 exitosamente su Defensa de <strong>Tesis de Maestr\u00eda en Ingenier\u00eda Electr\u00f3nica<\/strong> de la\u00a0<strong>Facultad de Ingenier\u00eda de la Universidad Nacional de Asunci\u00f3n (FIUNA)<\/strong>,\u00a0titulada\u00a0<em><strong>\u201cProcesamiento embebido de se\u00f1ales de dispositivos de carga acoplada por medio de Doble Muestreo Correlacionado utilizando FPGA\u201d<\/strong><\/em>. Recibiendo as\u00ed el t\u00edtulo de\u00a0<strong>M\u00e1ster en Ingenier\u00eda Electr\u00f3nica con \u00e9nfasis en Electr\u00f3nica de Potencia \u2013 1ra Edici\u00f3n.<\/strong><!--more-->\nLa Tesis de Maestr\u00eda desarrollada ha presentado los \u00faltimos avances realizados por el equipo de investigaci\u00f3n del <strong>Laboratorio de Mec\u00e1nica y Energ\u00eda (LME) de la FIUNA<\/strong>, en el campo del dise\u00f1o de los principales elementos de un sistema de adquisici\u00f3n y procesamiento de se\u00f1al proveniente de sensores denominados <em>\u00abdispositivos de carga acoplada\u00bb<\/em> (CCDs, por sus siglas en ingl\u00e9s), utilizando la herramienta de Vivado 2016. El sistema dise\u00f1ado incorpora t\u00e9cnicas de muestreo doble correlacionado, tomando como referencia los requerimientos de dise\u00f1o de los experimentos DAMIC (Dark Matter in CCDs), CONNIE (Coherent Neutrino Nucleus Interaction Experiment) y SENSEI (Sub Electron Noise Skipper-CCD Experimental Instrument). Estos detectores de CCD utilizan material semiconductor que, debido a su tama\u00f1o, eficiencia y bajo nivel de ruido, son ideales para ser usados como detectores de part\u00edculas donde se necesite medir la transferencia de peque\u00f1as cantidades de energ\u00eda.\nDe esta manera, el desarrollo de esta Tesis se ha enfocado en el procesamiento de se\u00f1ales provenientes de CCDs y encuentra aplicaci\u00f3n pr\u00e1ctica en la detecci\u00f3n de part\u00edculas de Materia Oscura (MO) a trav\u00e9s de sus colisiones el\u00e1sticas con los n\u00facleos del detector (vistos por los experimentos DAMIC y CONNIE).\nComo resultado inmediato del desarrollo de la presente Tesis, se resalta la simplicidad y la robustez del dise\u00f1o de los m\u00f3dulos para la adquisici\u00f3n de las se\u00f1ales que permitir\u00e1n expandir el n\u00famero de CCDs utilizados en forma simult\u00e1nea, mejorando de esta manera la sensibilidad de la detecci\u00f3n. Adem\u00e1s, gracias a los bajos costos que se proyectan para su implementaci\u00f3n, esta propuesta posibilitar\u00e1 su producci\u00f3n masiva con fines cient\u00edficos en experimentos donde se utilicen gran cantidad de CCDs, no solo para detectores de part\u00edculas, sino de luz tambi\u00e9n, como serian los telescopios. Los aportes propuestos en este trabajo han sido analizados y validados te\u00f3ricamente a mediante simulaciones.\nCabe resaltar la importancia del trabajo ya que fue desarrollado en parte en los laboratorios del <a href=\"http:\/\/www.fnal.gov\/\" target=\"_blank\" rel=\"noopener\">Fermi National Accelerator Laboratory<\/a> (EE.UU) como colaboraci\u00f3n internacional de la cual la FIUNA forma parte. Las placas de lectura que se est\u00e1n dise\u00f1ando se utilizar\u00e1n en todos los experimento mencionados anteriormente.]]>    \t<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>\u00a0\u00a0Ing. Carlos Romero Aquino\u00a0present\u00f3 exitosamente su Defensa de Tesis de Maestr\u00eda en Ingenier\u00eda Electr\u00f3nica de la\u00a0Facultad de Ingenier\u00eda de la Universidad Nacional de Asunci\u00f3n (FIUNA),\u00a0titulada\u00a0\u201cProcesamiento embebido de se\u00f1ales de dispositivos de carga acoplada por medio de Doble Muestreo Correlacionado utilizando FPGA\u201d. Recibiendo as\u00ed el t\u00edtulo de\u00a0M\u00e1ster en Ingenier\u00eda Electr\u00f3nica con \u00e9nfasis en Electr\u00f3nica de Potencia \u2013 1ra Edici\u00f3n.<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":30272,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"advanced_seo_description":"","jetpack_seo_html_title":"","jetpack_seo_noindex":false,"jetpack_seo_schema_type":"","_jetpack_newsletter_access":"","_jetpack_dont_email_post_to_subs":false,"_jetpack_newsletter_tier_id":0,"_jetpack_memberships_contains_paywalled_content":false,"_jetpack_hide_featured_image":false,"_jetpack_featured_image_duplicate_dismissed":0,"_jetpack_feature_clip_id":0,"_jetpack_memberships_contains_paid_content":false,"footnotes":"","jetpack_publicize_message":"","jetpack_publicize_feature_enabled":true,"jetpack_social_post_already_shared":true,"jetpack_social_options":{"image_generator_settings":{"template":"highway","default_image_id":0,"font":"","enabled":false},"version":2},"jetpack_post_was_ever_published":false},"categories":[887,87,75,91],"tags":[100,348,515],"class_list":["post-30268","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-eventos","category-maestrias-presentadas","category-noticias","category-postgrado","tag-ing-electronica","tag-lme","tag-maestria-en-ingenieria-electronica"],"jetpack_publicize_connections":[],"jetpack_shortlink":"https:\/\/wp.me\/pc8Odv-7Sc","jetpack_likes_enabled":true,"jetpack_sharing_enabled":true,"jetpack-related-posts":[{"id":30163,"url":"https:\/\/www.ing.una.py\/FIUNA3\/?p=30163","url_meta":{"origin":30268,"position":0},"title":"Invitaci\u00f3n a participar de la defensa de Tesis de Maestr\u00eda en Ingenier\u00eda Electr\u00f3nica del Ing. 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